タイトル・発表先
研究成果番号
13547
登録日時
2009.01.14 14:59
DOI
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Beyond the Abilities of Rietveld Analysis: MEM-based Pattern Fitting with Synchrotron X-ray Powder Diffraction Data
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter
巻
号
26
発行年
2001
頁
7-9
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0007532
Izumi
Fujio
National Institute for Materials Science
共著者 1
0005939
Ikeda
Takuji
National Institute for Materials Science
関連課題情報
課題番号
C01B2003
ビームライン
BL15XU
実験責任者
池田 拓史