タイトル・発表先
研究成果番号
13272
登録日時
2008.11.30 21:46
DOI
10.1016/j.apsusc.2008.07.050
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Analysis of ITO/Mg:GaN Interfaces by Synchrotron Radiation Hard X-ray Photoemission Spectroscopy and Their Electrical Characteristics
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Surface Science
巻
255
号
5
発行年
2008
頁
2149-2152
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0019575
Toyoshima
Yasushi
The University of Tokyo
共著者 1
0004068
Oshima
Masaharu
The University of Tokyo
共著者 2
0002632
Horiba
Koji
The University of Tokyo
共著者 3
Ohta
Jitsuo
The University of Tokyo
共著者 4
0004055
Fujioka
Hiroshi
The University of Tokyo
共著者 5
Miki
Hisayuki
Showa Denko K. K.
共著者 6
0001203
Ueda
Shigenori
National Institute for Materials Science
共著者 7
0013498
Yamashita
Yoshiyuki
National Institute for Materials Science
共著者 8
0001407
Yoshikawa
Hideki
National Institute for Materials Science
共著者 9
0001835
Kobayashi
Keisuke
National Institute for Materials Science
関連課題情報
課題番号
2007B4802
ビームライン
BL15XU
実験責任者
堀場 弘司
課題番号
2006B4605
ビームライン
BL15XU
実験責任者
小林 啓介