タイトル・発表先
研究成果番号
13261
登録日時
2008.11.27 15:43
DOI
10.1016/j.sse.2008.06.048
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Evaluation of Super-Critical Thickness Strained-Si on Insulator (sc-SSOI) Substrate
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Solid-State Electronics
巻
52
号
12
発行年
2008
頁
1845-1848
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
[A10] 生命科学
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0015928
Ogura
Atsushi
Meiji University
共著者 1
0019092
Yoshida
Tetsuya
Meiji University
共著者 2
0015901
Kosemura
Daisuke
Meiji University
共著者 3
0020331
Takei
Munehisa
Meiji University
共著者 4
Kakemura
Y.
Meiji University
共著者 5
Saito
H.
Meiji University
共著者 6
0001281
Shimura
Takayoshi
Osaka University
共著者 7
0005256
Koganezawa
Tomoyuki
SPring-8/JASRI
共著者 8
0002088
Hirosawa
Ichiro
SPring-8/JASRI
関連課題情報
課題番号
2007A1913
ビームライン
BL13XU
実験責任者
小椋 厚志
課題番号
2007A1736
ビームライン
BL20B2
実験責任者
志村 考功
課題番号
2007A1216
ビームライン
BL46XU
実験責任者
小椋 厚志