タイトル・発表先
研究成果番号
13063
登録日時
2008.10.18 13:02
DOI
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Structural Study on Interface between Thick Gallium Layer and SiC Substrate by X-ray Reflectivity under Transmission Geometry
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Transactions of the Materials Research Society of Japan
巻
33
号
3
発行年
2008
頁
557-560
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0014633
Noda
Takehiro
Kwansei Gakuin University
共著者 1
0017358
Tanaka
Masanori
Kwansei Gakuin University
共著者 2
0007338
Kitahara
Amane
Kobelco Research Institute, Inc.
共著者 3
0014256
Kaneko
Tadaaki
Kwansei Gakuin University
共著者 4
0003369
Sakata
Osami
SPring-8/JASRI
共著者 5
0003142
Takahashi
Isao
Kwansei Gakuin University
関連課題情報
課題番号
2004A0076
ビームライン
BL13XU
実験責任者
高橋 功
課題番号
2004B0115
ビームライン
BL13XU
実験責任者
高橋 功