タイトル・発表先
研究成果番号
13056
登録日時
2008.10.15 10:26
DOI
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering Study for Determining Structure and Composition of Multi-Stack Ge Nanowires on Si(113)
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Transactions of the Materials Research Society of Japan
巻
33
号
3
発行年
2008
頁
535-539
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003923
Omote
Kazuhiko
Rigaku Corporation
共著者 1
0006299
Omi
Hiroo
NTT Corporation
共著者 2
0003394
Kawamura
Tomoaki
NTT Corporation
関連課題情報
課題番号
2006A1325
ビームライン
BL13XU
実験責任者
表 和彦