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タイトル・発表先
研究成果番号	12098
登録日時	2008.02.04 20:52
DOI	10.1088/1742-6596/83/1/012009
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル	Oxidation Process Dependence of Strain Field under the SiO₂/Si(001) Interface Revealed by X-ray Multiple-wave Diffraction
日本語タイトル
発表形式	原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）	誌名 Journal of Physics: Conference Series 巻 83 号発行年 2007 頁 012009
発表先（口頭／ポスター発表）	講演会名埋もれた界面のＸ線・中性子線解析に関するワークショップ 2007 (’Buried’ Interface Science with X-rays and Neutrons 2007) 開催日 2007.07.22-07.24 開催都市 Sendai, Japan
研究分野
研究手法

著者情報
	ユーザーカード番号	姓	名	所属
主著者	0003297	Yashiro	Wataru	The University of Tokyo
共著者 1	0001245	Yoda	Yoshitaka	SPring-8/JASRI
共著者 2	0008044	Takahashi	Kensuke	Musashi Institute of Technology
共著者 3	0015559	Yamamoto	Masashi	Tohoku University
共著者 4	0007880	Hattori	Takeo	Tohoku University
共著者 5	0004138	Miki	Kazushi	National Institute for Materials Science