タイトル・発表先
12
2007.01.30 10:55
Local Atomic Image of 0.02% Zn in GaAs Wafers Using X-Ray Holography
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Advances in X-Ray Analysis
42 2000 181-190
47th Annual Denver X-ray Conference
1998.08.03-08.07 Colorado Springs, USA
著者情報
 
主著者 0001301 Hayashi Kouichi Kyoto University
共著者 1 0001300 Yamamoto Tokujirou Kyoto University
共著者 2 0001302 Kawai Jun Kyoto University
共著者 3 0001173 Suzuki Motohiro RIKEN
共著者 4 0000324 Goto Shunji JASRI
共著者 5 0001240 Hayakawa Shinjiro The University of Tokyo
共著者 6 0001274 Sakurai Kenji National Research Institute for Metals
共著者 7 0003344 Gohshi Yohichi National Institute for Environmental Study
関連課題情報
1998A0180 BL39XU 林 好一