タイトル・発表先
研究成果番号
12
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Local Atomic Image of 0.02% Zn in GaAs Wafers Using X-Ray Holography
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Advances in X-Ray Analysis
巻
42
号
発行年
2000
頁
181-190
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
47th Annual Denver X-ray Conference
開催日
1998.08.03-08.07
開催都市
Colorado Springs, USA
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0001301
Hayashi
Kouichi
Kyoto University
共著者 1
0001300
Yamamoto
Tokujirou
Kyoto University
共著者 2
0001302
Kawai
Jun
Kyoto University
共著者 3
0001173
Suzuki
Motohiro
RIKEN
共著者 4
0000324
Goto
Shunji
JASRI
共著者 5
0001240
Hayakawa
Shinjiro
The University of Tokyo
共著者 6
0001274
Sakurai
Kenji
National Research Institute for Metals
共著者 7
0003344
Gohshi
Yohichi
National Institute for Environmental Study
関連課題情報
課題番号
1998A0180
ビームライン
BL39XU
実験責任者
林 好一