タイトル・発表先
11730
2007.11.17 15:40
10.1063/1.2815919
Structural Investigation of Nitrided c-sapphire Substrate by Grazing Incidence X-ray Diffraction and Transmission Electron Microscopy
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Applied Physics Letters
91 20 2007 202116
著者情報
 
主著者 0021266 Lee Hyo-Jong Tohoku University
共著者 1 0021268 Ha Jun-Seok Tohoku University
共著者 2 Lee S. W. Tohoku University
共著者 3 Lee H. J. Tohoku University
共著者 4 Goto H. Tohoku University
共著者 5 Lee S .H. Tohoku University
共著者 6 Cho M. W. Tohoku University
共著者 7 0015678 Minegishi Tsutomu Tohoku University
共著者 8 0008832 Hanada Takashi Tohoku University
共著者 9 Hong S. K. Chungnam National University,Korea
共著者 10 0003369 Sakata Osami SPring-8/JASRI
共著者 11 Lee J. W. Korea Advanced Institute of Science and Technology
共著者 12 Lee J .Y. Korea Advanced Institute of Science and Technology
関連課題情報
2007A1819 BL13XU 嶺岸 耕