タイトル・発表先
研究成果番号
1133
登録日時
2007.01.30 10:55
DOI
10.1063/1.1337621
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
X-Ray Phase-Contrast Imaging with Submicron Resolution by Using Extremely Asymmetric Bragg Diffractions
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Applied Physics Letters
巻
78
号
1
発行年
2001
頁
132-134
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003403
Kobayashi
Kenji
NEC Corporation
共著者 1
0004081
Izumi
Koichi
NEC Corporation
共著者 2
0001267
Kimura
Hidekazu
NEC Corporation
共著者 3
0004124
Kimura
Shigeru
NEC Corporation
共著者 4
0004208
Ibuki
Takashi
Himeji Institute of Technology
共著者 5
0004807
Yokoyama
Yoshiyuki
Himeji Institute of Technology
共著者 6
0001231
Tsusaka
Yoshiyuki
Himeji Institute of Technology
共著者 7
0001230
Kagoshima
Yasushi
Himeji Institute of Technology
共著者 8
0001232
Matsui
Junji
Himeji Institute of Technology
関連課題情報
課題番号
C00A0546
ビームライン
BL24XU
実験責任者
泉 弘一