タイトル・発表先
研究成果番号
11311
登録日時
2007.08.16 11:37
DOI
10.1063/1.2436293
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Time-resolved X-ray Triple-crystal Diffractometry Probing Dynamic Strain in Semiconductors
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
AIP Conference Proceedings
巻
879
号
発行年
2007
頁
1258-1261
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI)
開催日
2006.05.28-06.02
開催都市
Daegu, Korea
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0007519
Hayashi
Yujiro
Kyushu University, SPring-8/RIKEN
共著者 1
0001268
Tanaka
Yoshihito
SPring-8/RIKEN
共著者 2
0002533
Kirimura
Tomoyuki
SPring-8/RIKEN
共著者 3
Tsukada
Noboru
Kyushu University
共著者 4
Kuramoto
Eiichi
Kyushu University
共著者 5
0000179
Ishikawa
Tetsuya
SPring-8/RIKEN
関連課題情報
課題番号
None
ビームライン
BL19LXU
利用施設
SPring-8
サイト内分類項目
Experiment