タイトル・発表先
研究成果番号
10953
登録日時
2007.05.09 14:06
DOI
10.1016/j.jcrysgro.2007.02.002
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Topographic Study of Dislocation Structure in Hexagonal SiC Single Crystals with Low Dislocation Density
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
Journal of Crystal Growth
巻
304
号
1
発行年
2007
頁
57-63
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0007676
Nakamura
Daisuke
Toyota Central Research & Development Laboratories, Inc.
共著者 1
0006044
Yamaguchi
Satoshi
Toyota Central Research & Development Laboratories, Inc.
共著者 2
0009514
Gunjishima
Itaru
Toyota Central Research & Development Laboratories, Inc.
共著者 3
0005461
Hirose
Yoshiharu
Toyota Central Research & Development Laboratories, Inc.
共著者 4
Kimoto
Tsunenobu
Kyoto University
関連課題情報
課題番号
2002B0335
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
C03A4014
ビームライン
BL16B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
2003A0289
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
2004A0091
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治