タイトル・発表先
10861
2007.04.06 14:58
10.1016/j.sse.2007.01.002
Measurement of In-plane and Depth Strain Profiles in Strained-Si Substrates
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Solid-State Electronics
51 2 2007 219-225
[A10] 生命科学
著者情報
 
主著者 0015928 Ogura Atsushi Meiji University
共著者 1 0015901 Kosemura Daisuke Meiji University
共著者 2 0015848 Yamasaki Kousuke Meiji University
共著者 3 0016207 Tanaka Satoshi Meiji University
共著者 4 0018229 Kakemura Yasuto Meiji University
共著者 5 0003713 Kitano Akiko SPring-8/JASRI
共著者 6 0002088 Hirosawa Ichiro SPring-8/JASRI
関連課題情報
2006A0250 BL13XU 小椋 厚志
2005A0080 BL13XU 小椋 厚志