タイトル・発表先
10447
2007.01.30 10:57
10.1063/1.2436366
Characterization of Amorphous High-k Thin Films by EXAFS and GIXS
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
AIP Conference Proceedings
879 2007 1573-1576
International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI)
2006.05.28-06.02 Daegu, Korea
著者情報
 
主著者 0003152 Takemura Momoko Toshiba Corporation
共著者 1 0008496 Yamazaki Hideyuki Toshiba Corporation
共著者 2 0004894 Ohmori Hirobumi Toshiba Corporation
共著者 3 0004423 Yoshiki Masahiko Toshiba Corporation
共著者 4 0015222 Takeno Shiro Toshiba Corporation
共著者 5 Ino Tsunehiro Toshiba Corporation
共著者 6 Nishiyama Akira Toshiba Corporation
共著者 7 0015207 Satou Nobutaka Toshiba Nanoanalysis Corporation
共著者 8 0002088 Hirosawa Ichiro SPring-8/JASRI
共著者 9 0002072 Sato Masugu SPring-8/JASRI
関連課題情報
C03B4012 BL16B2 竹村 モモ子
C04A4060 BL16B2 竹村 モモ子
2004B0493 BL46XU 竹村 モモ子