タイトル・発表先
研究成果番号
10447
登録日時
2007.01.30 10:57
DOI
10.1063/1.2436366
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Characterization of Amorphous High-k Thin Films by EXAFS and GIXS
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
AIP Conference Proceedings
巻
879
号
発行年
2007
頁
1573-1576
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI)
開催日
2006.05.28-06.02
開催都市
Daegu, Korea
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0003152
Takemura
Momoko
Toshiba Corporation
共著者 1
0008496
Yamazaki
Hideyuki
Toshiba Corporation
共著者 2
0004894
Ohmori
Hirobumi
Toshiba Corporation
共著者 3
0004423
Yoshiki
Masahiko
Toshiba Corporation
共著者 4
0015222
Takeno
Shiro
Toshiba Corporation
共著者 5
Ino
Tsunehiro
Toshiba Corporation
共著者 6
Nishiyama
Akira
Toshiba Corporation
共著者 7
0015207
Satou
Nobutaka
Toshiba Nanoanalysis Corporation
共著者 8
0002088
Hirosawa
Ichiro
SPring-8/JASRI
共著者 9
0002072
Sato
Masugu
SPring-8/JASRI
関連課題情報
課題番号
C03B4012
ビームライン
BL16B2
実験責任者
竹村 モモ子
課題番号
C04A4060
ビームライン
BL16B2
実験責任者
竹村 モモ子
課題番号
2004B0493
ビームライン
BL46XU
実験責任者
竹村 モモ子