タイトル・発表先
10408
2007.01.30 10:57
10.1143/JJAP.45.5248
High Sensitive Imaging of Atomic Arrangement of Ge Clusters Buried in a Si Crystal by X-ray Fluorescence Holography
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
Japanese Journal of Applied Physics
45 6A 2006 5248-5253
著者情報
 
主著者 0003548 Kusano Shuuji The University of Tokyo, National Institute for Materials Science
共著者 1 0003300 Nakatani Shinichiro The University of Tokyo
共著者 2 0003162 Sumitani Kazushi SPring-8/JASRI
共著者 3 0003133 Takahashi Toshio The University of Tokyo
共著者 4 0001245 Yoda Yoshitaka SPring-8/JASRI
共著者 5 Usami Noritaka Tohoku University
共著者 6 Shiraki Yasuhiro The University of Tokyo
関連課題情報
2000A0286 BL09XU 高橋 敏男
2000B0457 BL09XU 高橋 敏男
2001A0280 BL09XU 高橋 敏男