タイトル・発表先
研究成果番号
10244
登録日時
2007.01.30 10:57
DOI
10.1142/S0129156406003680
オープンアクセスジャーナルURL
英語タイトル
Study on the Gate Insulator/Silicon Interface Utilizing Soft and Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy at SPring-8
日本語タイトル
発表形式
原著論文／博士論文／査読付プロシーディングス
発表先（出版）
誌名
International Journal of High Speed Electronics and Systems
巻
16
号
1
発行年
2006
頁
353-364
発表先（口頭／ポスター発表）
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0007880
Hattori
Takeo
Musashi Institute of Technology, Tohoku University
共著者 1
0008035
Nohira
Hiroshi
Musashi Institute of Technology, SPring-8/JASRI
共著者 2
0013310
Azuma
Kazufumi
Musashi Advances LCD Technologies Development Center Co., Ltd.
共著者 3
Sakai
Wataru
Kyoto University
共著者 4
Nakajima
Kaoru
Kyoto University
共著者 5
Suzuki
Motofumi
Kyoto University
共著者 6
0017868
Kimura
Kenji
SPring-8/JASRI
共著者 7
Sugita
Yoshihiro
Fujitsu Laboratories, Ltd.
共著者 8
0000448
Ikenaga
Eiji
SPring-8/JASRI
共著者 9
0001835
Kobayashi
Keisuke
SPring-8/JASRI
共著者 10
0001866
Takata
Yasutaka
SPring-8/RIKEN
共著者 11
0015225
Kondo
Hiroki
SPring-8/JASRI
共著者 12
0015932
Zaima
Shigeaki
SPring-8/JASRI
関連課題情報
課題番号
None
ビームライン
BL29XU
利用施設
SPring-8
サイト内分類項目
Experiment
課題番号
2002A0199
ビームライン
BL27SU
実験責任者
服部 健雄