タイトル・発表先
10100
2007.01.30 10:57
10.11470/oubutsu.75.9_1140
https://doi.org/10.11470/oubutsu.75.9_1140
Growth and Dislocation-Structural Analysis of Ultrahigh-Quality Silicon Carbide Single Crystals
低転位密度SiC単結晶成長と転位構造解析
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
応用物理 (Journal of Applied Physics, Japan)
75 9 2006 1140-1143
著者情報
 
主著者 0007676 Nakamura Daisuke Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
共著者 1 0006044 Yamaguchi Satoshi Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
関連課題情報
2002B0335 BL20B2 広瀬 美治
C03A4014 BL16B2 広瀬 美治
2003A0289 BL20B2 広瀬 美治
2004A0091 BL20B2 広瀬 美治