タイトル・発表先
研究成果番号
10100
登録日時
2007.01.30 10:57
DOI
10.11470/oubutsu.75.9_1140
オープンアクセスジャーナルURL
https://doi.org/10.11470/oubutsu.75.9_1140
英語タイトル
Growth and Dislocation-Structural Analysis of Ultrahigh-Quality Silicon Carbide Single Crystals
日本語タイトル
低転位密度SiC単結晶成長と転位構造解析
発表形式
原著論文/博士論文/査読付プロシーディングス
発表先(出版)
誌名
応用物理 (Journal of Applied Physics, Japan)
巻
75
号
9
発行年
2006
頁
1140-1143
発表先(口頭/ポスター発表)
講演会名
開催日
開催都市
研究分野
研究手法
著者情報
ユーザーカード番号
姓
名
所属
コレスポンディング
オーサー
主著者
0007676
Nakamura
Daisuke
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
共著者 1
0006044
Yamaguchi
Satoshi
Toyota Central R&D Laboratories, Inc.
関連課題情報
課題番号
2002B0335
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
C03A4014
ビームライン
BL16B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
2003A0289
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治
課題番号
2004A0091
ビームライン
BL20B2
実験責任者
広瀬 美治